热门搜索: SL-480管线探测仪 T498地下管线探测仪 TEZL503全自动张力测定仪 BZY-1全自动界面张力测定仪 VZL2000张力自动测定仪 KJL6305型全自动张力测定仪 YCZLY全自动界面张力测定仪 KDZW-601多功能全自动振荡仪 SEYS全自动油酸值测定仪 REK-KSD自动开口闪点和燃点测定仪 HB2571数字接地电阻测试仪 ZQJR2571数字接地电阻测试仪 RT2571-II数字接地电阻测试仪 ZS2571数字接地电阻测试仪 SJ2571-A数字接地电阻测试仪 HSX2571数字接地电阻测试仪

PRODUCT CLASSIFICATION

产品分类

技术文章/ Technical Articles

您的位置:首页  /  技术文章  /  影响介质损耗因数测量结果的因素

影响介质损耗因数测量结果的因素

更新时间:2018-06-14      浏览次数:2487

影响介质损耗因数测量结果的因素有如下几点:

(1)温度的影响。温度对tanδ有直接影响,其程度随绝缘材料、设备结构的不同而异。一般情况下,tanδ随温度升高而增大,为了便于比较,应将不同温度下测得的tanδ值换算至20℃,再进行比较。

油浸式电力变压器的温度换算公式为:

tanδ2=tanδ1×1.3(t1-t2)/10

式中,tanδ1、tanδ2分别为t1、t2时的tanδ值。

由于被试品的真实平均温度很难测准,对换算结果的正确性收到影响。因此,应尽可能在10-30℃温度下进行测量,每次在相近温度下测量。

受潮的绝缘材料在0℃以下时水分会冻结,tanδ会降低。因此,过低温度下测得的tanδ不能反映真实的绝缘状况,故测量tanδ的温度不应低于5℃。

(2)试验电压的影响。良好绝缘的tanδ不随电压的升高而明显增加。若内部有缺陷,则其tanδ将随试验电压的升高而明显增加。

(3)Tanδ与试品电容的关系。对电容量较小的设备(如套管、互感器、耦合电容器等),测量tanδ能有效地发现局部集中性和整体分布性的缺陷。但对电容量较大的设备(如大、中型变压器等),测量tanδ只能发现绝缘的整体分布性缺陷,因为局部集中性的缺陷所引起的损坏增加只占总损耗的小部分,容易被掩盖,设备绝缘结构总是由许多部件构成并包含多种材料,可以看成是由许多串、并联等值回路组成。

微信扫一扫

邮箱:870926904@qq.com

传真:86-021-66933733

地址:上海市嘉定区曹安公路4908号

Copyright © 2024 上海妙定电气有限公司版权所有   备案号:沪ICP备16012935号-7   技术支持:化工仪器网